9月9日下午“闪存芯片失效分析与测试技术研讨会暨置富科技闪存芯片智能测试系统发布会”在深圳平湖中科谷成功举办。

来自全国各地半导体行业的100余位代表出席了会议。全国信息技术标准化技术委员会信息技术研究中心陈海主任出席了会议并致辞。中国科学院深圳先进技术研究院刘志权博士在会上做了《电子材料与器件的分析检测与失效分析》主旨报告。

置富科技董事长、总裁肖军先生在欢迎辞中指出：“置富科技正处于难得的战略发展机遇期，得益于国产替代进口政治经济红利、半导体行业大发展红利、大湾区建设政策红利、多层次资本市场深化改革红利等，多重加持，置富科技进入了更为广阔高速的发展赛道。真诚希望能向在座的行业翘楚学习，共同发展。未来之路，共享置富。”

全国信息技术标准化技术委员会信息技术研究中心陈海主任在致辞中强调，存储芯片在全球半导体产业中比重达到20%，是信息技术产业中重要的组成部分，但核心技术一直被国外高度垄断。置富科技在闪存测试技术方面，对存储的寿命预测、存储的可靠性分析等研制相关的验证测试工具，弥补了国内对SSD产品、产业发展过程质量的综合评价落地实施，对国产SSD产品的自主可控发展，对SSD产品在信创、军用装备、工业控制等领域应用产品的质量提升具有重要意义。

深圳市计算机行业协会杜和平执行会长对会议的召开表示热烈的祝贺！他在致辞中指出：随着半导体制程工艺不断提升，测试和验证也变得更加重要。置富科技专注于研发和生产闪存芯片测试设备，是国内该领域的知名供应商，2021年初加入协会，为我国半导体行业的发展注入了有生力量。今后，协会将进一步整合上下游资源，促进链上企业深入合作，实现多方共赢。

置富科技（深圳）股份有限公司战略部总经理王龙就一流企业定标准、规范闪存定义，智能分类、科学应用、从而使市场效益最大化进行了说明，并通过智能测试对“闪存”进行分级，定义出面向不同应用领域的存储产品。

置富科技武汉公司总经理李四林在会上发布了《闪存芯片智能测试系统》产品系列。置富科技自主研发的闪存智能测试技术，采用了人工神经网络算法，能对闪存颗粒的质量进行精准检测分析与寿命预测，寿命预测精准度超过90%，并对闪存进行等级划分，使得更有效的应用到不同的行业领域。目前该测试系统已正式投产，分为“便携式-标准版”、“便携式-专业版”“生产版”“科研版”“卓越版”五种规格。

本次会议邀请到中国长城科技集团股份有限公司、深圳宏芯宇电子股份有限公司、深圳市华澜微电子有限公司、中电信源科技发展(北京)有限公司、长江存储科技有限责任公司、比亚迪股份有限公司、创维集团科技管理有限公司、北京忆芯科技有限公司、深圳市得一微电子有限责任公司、联芸科技(杭州)有限公司、中科谷产业发展中心等重要嘉宾参会。在会议的现场，数家品牌企业与置富科技达成合作意向，共同助力闪存质量标准化的进程。

与会嘉宾还参观了置富闪存芯片质量研究实验室和产品展厅，大家纷纷表示：通过这次会议扩大了我们的认知，使大家对置富科技的闪存智能测试系统有了清晰的认识，同时也希望这个创新产品能惠及存储行业上下游的合作伙伴，为推动存储行业发展做出积极地贡献。